鑄鐵平板的平面度該如何測量？泊鑄推薦方法如下
2017年03月24日
新聞詳情
用光學(xué)儀器測量鑄鐵平板平面度的測量方法，將平面掃描儀架在被測平臺上，目標(biāo)I、目標(biāo)II、目標(biāo)III圍繞測微準(zhǔn)直望遠(yuǎn)鏡放置，且平行于支腳AC和BC的連線，把光學(xué)頭轉(zhuǎn)向目標(biāo)I，并把望遠(yuǎn)鏡調(diào)焦到目標(biāo)I上，調(diào)整支腳B的調(diào)整螺釘，使望遠(yuǎn)鏡十字線初步對準(zhǔn)目標(biāo)I上條紋。再轉(zhuǎn)向目標(biāo)III調(diào)整掃描儀的測微鼓輪，使目標(biāo)III接近望遠(yuǎn)鏡十字線。光學(xué)頭轉(zhuǎn)向目標(biāo)II，調(diào)整支腳A的調(diào)整螺釘，使望遠(yuǎn)鏡十字線與目標(biāo)II對中，經(jīng)反復(fù)調(diào)整支腳高度和測微鼓輪，使望遠(yuǎn)鏡十字線與三目標(biāo)對中，建立了基準(zhǔn)面，將目標(biāo)IV放在要測量位置，用平面掃描儀的光學(xué)測微器讀出該位置對基準(zhǔn)面的偏差。適合鑄鐵平板/鑄鐵平臺的平面度測量，通用性強(qiáng)、速度快、測量度高。
鑄鐵平板平面度誤差的測量：
平面度誤差的測量方法很多，常用的有如下所列的方法：
①光隙法：將被測直線和測量基線間形成的光隙，與標(biāo)準(zhǔn)光隙比較，測量不同方向的若干個截面上的直線度誤差，取其中大值，作為平面度誤差近似值的方法。該方法適用于磨削或研磨加工的小平面的鑄鐵平板平面度誤差測量。
②指示器法：將被測零件支撐在測量平板上，鑄鐵平板工作面為測量基準(zhǔn)，按一定的方式布點(diǎn)，用指示器對被測面上各點(diǎn)進(jìn)行測量并記錄所測數(shù)據(jù)，然后，按一定的方法評定其誤差值。該方法適用于中、小平面的鑄鐵平板平面度誤差測量。
③光軸法：以幾何光軸建立測量基面，測出被測面相對測量基面的偏離量，進(jìn)而評定鑄鐵平板平面度誤差值的方法，該方法適用于一般度大平面的鑄鐵平板平面度誤差測量。
④干涉法：利用光波干涉原理，根據(jù)干涉條紋形狀、條數(shù)，來確定平面度誤差值的方法，該方法適用于研表面的鑄鐵平板平面度誤差測量。
⑤三坐標(biāo)測量機(jī)：三坐標(biāo)測量機(jī)是綜合利用jingmi機(jī)械、微電子、光柵和激光干涉儀等技術(shù)的測量儀器，其原理是在三個相互垂直的方向上，有導(dǎo)向機(jī)構(gòu)、測長元件、數(shù)顯裝置，有一個能夠放置工件的工作臺，測頭可以以手動或機(jī)動方式，輕快地移動到被測點(diǎn)上，由讀數(shù)設(shè)備和數(shù)顯裝置，把被測點(diǎn)的坐標(biāo)值顯示出來的一種測量設(shè)備。
除上面介紹的幾種方法外，還有液面法、自準(zhǔn)直儀法等，鑄鐵平板生產(chǎn)廠家常采用光學(xué)合像水平儀測定測量平板的平面度誤差。
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